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OP-90ZMS纳米粒度仪
发布时间:2014-08-22 丨 阅读次数:

介绍

一、产品介绍

OP-90ZMS纳米粒度仪基于光子相关光谱技术,以本公司最新专利技术研制的大动态范围高速光子相关器为核心器件,采用本公司在颗粒粒度反演算法上的最新研究成果,因此具有准确度高、重复性高的特点,是测量亚微米及纳米颗粒粒度的最佳选择。适用于测量各种亚微米及纳米颗粒的稀释溶液。


二、测试原理

当激光束照射样品时,由于散射区域所有粒子的光散射作用,散射场会出现散射光斑。某些位置,由于场强的叠加得到较大的光强,某些位置,由于场强的相互抵消,获得的光强较弱。然而,由于粒子的布朗运动,光斑不是静止不动的,而是随时间波动。在固定的散射角度由光电倍增管测得散射光,并送入光子相关器进行自相关运算得到光强自相关函数,对相关函数进行反演就可以获得颗粒粒径和粒度分布信息。

根据溶液对入射光的散射能力以及散射光强的浓度依赖性和角度依赖性的测点,可以计算聚合物的分子量,以及溶液的第二维利系数等热力学参数。

Zeta电位是对颗粒之间相互排斥或吸引力强度的度量,是样品分散稳定性的一个指标。Zeta电位越高,体系越稳定,即溶液可以抵抗聚集。反之,Zeta电位越低,越倾向于凝结或凝聚,即吸引力超过了排斥力,分散被破坏而发生凝结或凝聚。电泳光散射法是测量Zeta电位的主要方法,它是通过散射光的多普勒频移来测量电泳迁移率,从而计算出Zeta电位。


三、性能特点

1、大动态范围高速光子相关器:采用专利技术设计的光子相关器,以高、低速通道搭配的结构,有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾,实现了1010的动态范围,并保证了相关函数基线的稳定性。

2、最优反演算法:采用最优拟合累积反演法和基于V-曲线判断准则的正则化算法反演颗粒粒径及其粒度分布,使测量结果的准确度和重复性均小于1%。

3、超强的抗噪能力:采用小波消噪技术,解决了散射光强较低时,噪声过大对测量结果的影响。

4、稳定的光路系统:采用532nm固态激光光源和单模保偏光纤技术搭建而成的光路系统,保证了光子相关光谱测量系统的稳定性和准确度。

5、高精度温控系统:基于半导体制冷装置,采用自适应PID控制算法,使温度控制精度达±0.1℃。

6、高灵敏度光子探测器:采用专业级高性能光电倍增管,对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比。光子计数器采用边沿触发模式,瞬间捕捉光子脉冲的变化。


四、软件功能

1、一键启动式测量,自动生成测试报表

2、自动调整散射光强,无需用户干涉

3、自动优化光子相关器参数,以适应不同样品


五、测试报告

Thermo Fisher公司200nm标准样品(3200A)的测试结果如下


六、技术指标

 

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